优恩半导体自恢复保险丝是由高科技聚合树脂及纳米导电晶粒经特殊工艺加工制成，正常情况下，纳米导电晶体随树脂基链接形成链状导电通路，保护器正常工作。

    当电路发生短路或者过载时，流经优恩半导体保护器的大电流使其集温升高，当达到居里温度时，其态密度迅速减小，相变增大，内部的导电链路呈雪崩态变或断裂，优恩半导体保护器呈阶跃式迁到高阻态，电流被迅速夹断，从而对电路进行快速，准确的限制和保护。 

    其微小的电流使优恩半导体保护器一直处于保护状态，当断电和故障排除后，其集温降低，态密度增大，相变复原，纳米晶体还原成链状导电通路，自恢复保险丝恢复为正常状态，无需人工更换。
    优恩半导体自恢复保险丝各参数符号说明：

I hold =保持电流：最大电流器件将在23°C静止空气中通过而不跳闸。

I trip =跳闸电流：设备在23°C静止空气中跳闸的最小电流。

V max =最大电压器件可以承受额定电流（I max）而不会损坏

I max =最大故障电流器件在额定电压（V max）下可承受而不会损坏

P dtyp。 =在23℃静止空气处于跳闸状态时从设备消耗的功率。

R min =初始（未焊接）状态下器件的最小电阻。

R 1max =跳闸后1小时测得的23°C器件的最大电阻。

注意：超出规定额定值的操作可能导致损坏，可能产生电弧和火焰。
    安装方式
    自复保险丝没有极性，阻抗小，安装方便，将其串联关于被保护电器的线路中即可，电源直流或交流均可。                 

    列出设备线路上的最大正常工作电流(I)和最大的工作电压(V)
    列出工作环境温度正常值及范围，按折减率计算正常电流Ih(详见环境温度与电流值的折减率表)
    根据I、V值,产品类别及安装方式选择一种"优恩半导体"牌自复位过流保护器系列。(参考各规格表)
    选出的“优恩半导体”牌自复位过流保护器的I值必须小于或等于Ih

自恢复保险丝是否有老化现象？自恢复动作多了以后，会不会有什么影响？在什么情况下会发生失效？

自恢复保险丝材料本身是不易老化的。自恢复保险丝器件老化现象是由于器件两端金属电极与自恢复保险丝材料之间结合部紧密程度有关。

优恩半导体自恢复保险丝有严格的碾压工艺控制，保证自恢复保险丝处于85摄氏度和85%相对湿度的严酷环境下，1000个小时性能不会退化。

    在经历许多次动作后，自恢复保险丝电阻值会高于初始电阻，当电阻值超过最大动作后电阻参数R1max后，其失效表现为厂家不能保证器件在保持电流IH下不动作。

    失效动作次数与PPTC每次动作之后的恢复时间有关，恢复时间越长，可承受的次数越多。 自恢复保险丝测试条件为每次动作后120秒恢复，1000个动作循环后，性能有保证。

自恢复保险丝可能失效情况有：许多次动作、持续长时间动作、电压超过额定工作电压Vmax、故障电流超过额定动作电流Imax。其失效表现为性能参数下降或者断路。

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